BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//GREYC UMR CNRS 6072 - Groupe de Recherche en Informatique, Image, et Instrumentation de Caen - ECPv5.7.0//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:GREYC UMR CNRS 6072 - Groupe de Recherche en Informatique, Image, et Instrumentation de Caen
X-ORIGINAL-URL:https://www.greyc.fr
X-WR-CALDESC:évènements pour GREYC UMR CNRS 6072 - Groupe de Recherche en Informatique, Image, et Instrumentation de Caen
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:Europe/Paris
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:+0100
TZOFFSETTO:+0200
TZNAME:CEST
DTSTART:20220327T010000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:+0200
TZOFFSETTO:+0100
TZNAME:CET
DTSTART:20221030T010000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=Europe/Paris:20220616T140000
DTEND;TZID=Europe/Paris:20220616T160000
DTSTAMP:20260423T223230
CREATED:20220614T142346Z
LAST-MODIFIED:20230307T085652Z
UID:10870-1655388000-1655395200@www.greyc.fr
SUMMARY:Séminaire IMAGE : Etude de nanomatériaux par diffraction des électrons : besoins en analyse d’images (CRISMAT)
DESCRIPTION:Philippe Boullay et Sara Passuti\, du CRISMAT\, viendront nous parler de quelques problématiques d’analyse d’images auxquels ils souhaitent s’attaquer. \n Etude de nanomatériaux par diffraction des électrons : besoins en analyse d’images  \nLa cristallographie des matériaux nanocristallins a connu une véritable révolution au cours des dix dernières années\, grâce à l’introduction de protocoles d’acquisition et d’analyse des données de diffraction d’électrons en faisceau parallèle. Ces approches\, réunies sous la dénomination générique « 3D Electron Diffraction » (3DED [1])\, permettent d’obtenir la structure cristalline d’un nombre croissant de matériaux à une échelle inaccessible par d’autres techniques et suscitent un intérêt grandissant auprès de la communauté scientifique [2-3]. Les données 3DED sont obtenues à l’aide d’un microscope électronique en transmission et se présentent sous la forme de séries d’images 2D (d’une petite centaine jusqu’à plusieurs milliers) nommées « clichés de diffraction » et constituées d’un fond continu (bruit) et de pics intenses (signal). Les images sont enregistrées par des détecteurs type CMOS ou Medipix. \nAprès une introduction à la méthode\, nous illustrerons quelques-unes des applications de la 3DED pour différents types d’échantillons et de problématiques. Nous parlerons ensuite des limites et développements potentiels de la 3DED notamment au travers du projet européen « Electron Nanocrystallography » (H2020-MSCA-ITN GA 956099) dont le laboratoire CRISMAT est l’un des 8 centres académiques. Nous verrons notamment que l’amélioration de l’instrumentation permet d’obtenir un nombre croissant d’images qu’il convient d’analyser de façon automatisée afin de générer des données plus facilement exploitables.
URL:https://www.greyc.fr/event/seminaire-image-etude-de-nanomateriaux-par-diffraction-des-electrons-besoins-en-analyse-dimages-crismat/
LOCATION:ENSICAEN – Batiment F – Salle F-200\, 6 Bd Maréchal Juin\, Caen\, 14050\, France
CATEGORIES:General,Image,Seminaire Image
END:VEVENT
END:VCALENDAR