Séminaire IMAGE : Etude de nanomatériaux par diffraction des électrons : besoins en analyse d’images (CRISMAT)

Philippe Boullay et Sara Passuti, du CRISMAT, viendront nous parler de quelques problématiques d’analyse d’images auxquels ils souhaitent s’attaquer.

Etude de nanomatériaux par diffraction des électrons : besoins en analyse d’images

La cristallographie des matériaux nanocristallins a connu une véritable révolution au cours des dix dernières années, grâce à l’introduction de protocoles d’acquisition et d’analyse des données de diffraction d’électrons en faisceau parallèle. Ces approches, réunies sous la dénomination générique « 3D Electron Diffraction » (3DED [1]), permettent d’obtenir la structure cristalline d’un nombre croissant de matériaux à une échelle inaccessible par d’autres techniques et suscitent un intérêt grandissant auprès de la communauté scientifique [2-3]. Les données 3DED sont obtenues à l’aide d’un microscope électronique en transmission et se présentent sous la forme de séries d’images 2D (d’une petite centaine jusqu’à plusieurs milliers) nommées « clichés de diffraction » et constituées d’un fond continu (bruit) et de pics intenses (signal). Les images sont enregistrées par des détecteurs type CMOS ou Medipix.

Après une introduction à la méthode, nous illustrerons quelques-unes des applications de la 3DED pour différents types d’échantillons et de problématiques. Nous parlerons ensuite des limites et développements potentiels de la 3DED notamment au travers du projet européen « Electron Nanocrystallography » (H2020-MSCA-ITN GA 956099) dont le laboratoire CRISMAT est l’un des 8 centres académiques. Nous verrons notamment que l’amélioration de l’instrumentation permet d’obtenir un nombre croissant d’images qu’il convient d’analyser de façon automatisée afin de générer des données plus facilement exploitables.